TY  - BOOK
AU  - Cosslett,V
AU  - Engström,A
AU  - Pattee,H
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ED  - 1960
ED  - International symposium II
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TI  - X-ray microscopy and X-ray microanalysis
CY  - New York
KW  - Rayos X
KW  - Microanálisis por zona electrónica
ER  -